Méthode de Contrôle des poudres Micron

Contrôle poudres micron

 

Bases du système de contrôle de qualité Van Moppes

Particule Micron

Le système Van Moppes de contrôle de qualité des poudres de diamant micron est probablement le plus exigeant et le plus complet dans ce domaine. Pour les poudres du domaine ‘visible’, ne contenant pas de particules inférieures à 0.5µ, il est basé sur les mesures suivantes, effectuées sur toutes les poudres avant leur passage en inventaire:

  • Distribution statistique des dimensions de particules
  • Mesure de forme des particules
  • Recherche de grandes particules
La distribution est obtenue par la mesure optique directe de la plus grande longueur des particules contenues dans une préparation microscopique. Le contrôle des poudres sub­micron est l'objet de règles particulières (voir ci-après). Les données sont consignées sur un enre­gis­trement de qualité qui est conservé durant 10 ans au moins.

Instruments de contrôle

Les instruments de mesure suivants sont utilisés pour la mesure de la distribution statistique des dimensions de particules, qui font tous partie intégrante du système de contrôle entièrement étalonné :

a) Système d’analyse d’image
Ce système d’analyse d’image spécial mesure la plus grande longueur des particules sur toutes les poudres au-dessus d’environ 0.5µ. Il est étalonné sur le projecteur micro­sco­pique mentionné ci-après. La préparation micro­sco­pique doit être de qualité parfaite, ne doit contenir qu’une couche unique de particules et peu de particules contiguës. La mesure porte sur env. 500 à 1000 particules, avec une grande régularité de mesure. L’analyse d’image est également utilisée pour la mesure simultanée de la forme des particules. Le système d'analyse d'image Van Moppes est utilisé pour toutes les me­su­res de contrôle de qualité, à l’ex­cep­tion des gra­nu­la­tions sub-micron. Ce sys­tème com­prend un micro­scope muni de plusieurs ob­jec­tifs, une alimentation de lumière auto­ma­ti­que de haute pré­ci­sion et une caméra CCD qui trans­met les images à un ordinateur et un logiciel spé­cia­le­ment dé­ve­lop­pé pour cette application. Les distributions de dimen­sions et de formes sont mesurées simul­ta­né­ment. Ce système d'ana­lyse d'image a été conçu spé­cia­le­ment pour le contrôle de qualité des poudres de diamant micron. Sa per­for­mance et sa régu­la­rité de mesure sont im­pres­sion­nan­tes. Il offre la meil­leure garantie pour une qua­lité de produit parfaite et une excellente ré­gu­la­rité de livraison. La mesure de la plus grande longueur de par­ti­cule est un gage de qualité im­por­tant.

b) Projecteur microscopique
Cet instrument a servi à l’étalonnage de tout le système et peut mesurer toutes les poudres au-dessus d’environ 0.4µ, une limitation due à la longueur d’onde de la lumière. Les particules sont mesurées par la méthode du cercle circonscrit, qui est pratiquement identique à la mesure de la plus grande longueur, à l’exception de très rares formes triangulaires. Par définition, le projecteur microscopique ne nécessite pas d'étalonnage particulier, mais son utilisation exige du temps et une excellente formation de l’opérateur. Il exige également une formation continue de ce dernier, afin de garantir une régularité de mesure dans le temps.

c) Centrifugeuse à disque
Cet instrument spécial est mis en œuvre pour la mesure des poudres sub-micron, entre 0.01 et 1µ. A l’interface de 1µ, il produit une distribution comparable à la distribution de nombres/longueurs obtenue par les systèmes optiques. Les distributions obtenues par la centrifugeuse à disque sont toutefois basées sur des mesures de volume des volumes de particules, une distribution de nombres n’étant pas réalisable dans cet ordre de dimension, ni d’ailleurs la conversion mathématique de la distribution de volumes, qui serait sujette à des erreurs importantes. La précision et la reproductibilité des mesures est toutefois remarquablement bonne.

Base de mesure des particules

Particule Micron

L'analyse d'image mesure les particules par leur plus grande longueur (L), ce qui constitue un gage supplémentaire de qualité pour les poudres micron. La forme des particules est mesurée simultanément, par le rapport de forme A/R (Aspect Ratio = A/R ou L/W = Rapport de forme).