Prüfmethoden für Mikronpulver
Grundlagen des Van Moppes Qualitäts-Prüfsystems
Das Van Moppes Qualitäts-Prüfsystem für Mikron Diamantpulver ist wahrscheinlich das umfangreichste im Bereich der Mikron Diamantpulver. Für sämtliche Mikronpulver im ‘sichtbaren’ Bereich (keine Partikel unter 0.5µ), beruht die Prüfung, welche vor dem Lagereingang durchgeführt wird, auf folgenden Messungen:
- Statistische Partikel-Grössenverteilung
- Messung der Partikelform
- Übermasskontrolle
Messinstrumente
Für die Messung der Partikelgrössenverteilung werden folgende Instrumente eingesetzt, alle Teil des durchgehend geeichten Prüfsystems:
a) Bildanalyse
Dieses firmeneigene System misst die grösste Partikellänge auf allen Mikronpulvern über ca. 0.5µ. Es ist auf das unten beschriebene Projektionsmikroskop geeicht. Die Qualität des mikroskopischen Präparates muss einwandfrei sein, mit einer einzigen Partikelschicht und nur wenigen aneinandergrenzenden Partikeln. Die Messung erstreckt sich auf ca. 500 bis 1000 Partikel, mit grosser Wiederholbarkeit. Die Bildanalyse wird ebenfalls für die gleichzeitige Messung der Partikelform eingesetzt.
b) Projektionsmikroskop
Dies war das Basis-Eichinstrument des ganzen Systems. Es kann zur Messung aller Pulver über ca. 0.4µ eingesetzt werden, begrenzt durch die Wellenlänge des Lichtes. Die Partikel werden mit der Methode des umschriebenen Kreises gemessen, also sozusagen identisch zur grössten Partikellänge, mit Ausnahme seltener dreieckiger Partikel. Prinzipiell bedarf das Projektionsmikroskop keiner Eichung. Der Prüfvorgang ist aber zeitraubend und benötigt, für dauernd anhaltende Messgenauigkeit, eine hervorragende Operatorenschulung.
c) Diskzentrifuge
Dieses spezielle Instrument wird nur für die Messung von Submikron-Pulvern eingesetzt, im Bereich 0.01 bis 1µ. An der 1µ Schnittstelle ergibt es eine, der optischen Anzahl/Längen-Messungen sehr ähnliche Verteilung. Die Diskzentrifuge ergibt jedoch prinzipiell eine Volumenverteilung der Partikelvolumen. Eine Anzahlverteilung ist in diesem kleinen Grössenbereich nicht möglich und eine mathematische Umwandlung würde zu grossen Fehlern führen. Die Messgenauigkeit und die Wiederholbarkeit der Messungen sind bemerkenswert.
a) Bildanalyse
Dieses firmeneigene System misst die grösste Partikellänge auf allen Mikronpulvern über ca. 0.5µ. Es ist auf das unten beschriebene Projektionsmikroskop geeicht. Die Qualität des mikroskopischen Präparates muss einwandfrei sein, mit einer einzigen Partikelschicht und nur wenigen aneinandergrenzenden Partikeln. Die Messung erstreckt sich auf ca. 500 bis 1000 Partikel, mit grosser Wiederholbarkeit. Die Bildanalyse wird ebenfalls für die gleichzeitige Messung der Partikelform eingesetzt.
b) Projektionsmikroskop
Dies war das Basis-Eichinstrument des ganzen Systems. Es kann zur Messung aller Pulver über ca. 0.4µ eingesetzt werden, begrenzt durch die Wellenlänge des Lichtes. Die Partikel werden mit der Methode des umschriebenen Kreises gemessen, also sozusagen identisch zur grössten Partikellänge, mit Ausnahme seltener dreieckiger Partikel. Prinzipiell bedarf das Projektionsmikroskop keiner Eichung. Der Prüfvorgang ist aber zeitraubend und benötigt, für dauernd anhaltende Messgenauigkeit, eine hervorragende Operatorenschulung.
c) Diskzentrifuge
Dieses spezielle Instrument wird nur für die Messung von Submikron-Pulvern eingesetzt, im Bereich 0.01 bis 1µ. An der 1µ Schnittstelle ergibt es eine, der optischen Anzahl/Längen-Messungen sehr ähnliche Verteilung. Die Diskzentrifuge ergibt jedoch prinzipiell eine Volumenverteilung der Partikelvolumen. Eine Anzahlverteilung ist in diesem kleinen Grössenbereich nicht möglich und eine mathematische Umwandlung würde zu grossen Fehlern führen. Die Messgenauigkeit und die Wiederholbarkeit der Messungen sind bemerkenswert.
Grundlage der Partikelmessung
Die Bildanalyse misst die grösste Partikellänge (L). Dadurch ergibt sich für Mikronpulver ein zusätzlicher Qualitätsfaktor. Die Partikelform wird simultan gemessen, durch den A/R Formfaktor (Aspect Ratio = A/R oder L/W = Formfaktor).